日本kett LH-373涡流式膜厚计涂层测厚仪

日本kett LH-373涡流式膜厚计涂层测厚仪

它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上的非导电覆盖层厚度的测量。日本kett LH-373 涡流式涂层测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

日本kett LH-373涡流式膜厚计涂层测厚仪

型号 LH-373
测定方法 高频涡流式
测定对象 非磁性金属基体上的绝缘层
测定范围 0-1200µm
测定精度 <50µm±1µm ，50µm-1000µm±2% ，1000µm-2000µm±3%
分辨率 <100µm为0.1µm ， >100µm为1µm
记忆数据 大约3000个
附加功能 1.程序选择 2.基体修正 3.数据删除 4.数据统计 5.设定上下限 6.数据统计（测定次数 最，大值 最小值 标准偏差） 7.语言选择（中、英、日、韩） 8.日期时间 9.自动关机设定 10.背景灯光选择 11.背景灯光的时间设定 12.单位 13.数据输出
测头 点触式（LHP-J）
显示方式 数字LCD显示（背光灯可自行选择开关）
数据输出 电脑输出（USB或者RS-232C)或者连接打印机
电源 4节1.5V碱性电池
存储通道 有50个通道可供选择
尺寸重量 75（W）×145（D）×31（H）mm 0.34Kg
标准配置 基体/标准片/4节碱性电池/测头/皮套
可选配置 数据管理软件（LDL-03)，不同厚度的标准片，打印机VZ-330